interOpto2020

開催概要

会期 2020年1月29日(水)~31日(金) 10:00~17:00
会場 東京ビッグサイト 西展示ホール
りんかい線 「国際展示場」駅 下車徒歩約7分
ゆりかもめ 「東京ビッグサイト」駅 下車徒歩約3分
ブース W2-V27
出展内容

近赤外光配光特性評価装置(ELDIM社)

 次世代技術である自動運転や顔認証などの3Dセンシングにおける光学デバイス(LiDAR、DOE)の放射パターンの評価に最適です。

視野角特性評価装置(ELDIM社)

 全方位360°視野角最大88°をワンショット短時間で測定します。LCDのコントラスト、偏光板、拡散板、BRDFなどの評価に最適です。

膜厚測定装置(ThetaMetrisis社)

 酸化膜、窒化膜、レジストなどの半導体材料、反射防止膜、ハードコート、DLCなどの機能性薄膜の厚さを非接触で瞬時に測定します。フィルムのRoll to Roll製造ラインでのリアルタイム膜厚モニタリングも可能です。

問い合わせ
公式サイト

 

製品ページ・関連ソリューション

電子機器事業


電子機器事業

電子計測器のご紹介から測定技術、利用技術、システム技術・設計のノウハウ、お客様のニーズに適したアプリケーションをご提供します。

 

WEBからのお問い合わせはこちらから